Överföringselektronmikroskop
Avbildningsprincipen för ett elektronmikroskop och ett optiskt mikroskop är i princip samma, förutom att den förra använder en elektronstråle som en ljuskälla och ett elektromagnetiskt fält som en lins. Eftersom elektronstrålens penetrationseffekt är mycket svag måste provet som används för elektronmikroskopet göras till en ultratunn sektion med en tjocklek av cirka 50 nm. Detta avsnitt måste göras med en ultramikrotom. Elektronmikroskopet har en förstoring på upp till nästan en miljon gånger. Det består av fem delar: belysningssystemet, bildsystemet, vakuumsystemet, inspelningssystemet och strömförsörjningssystemet. Elektronpistoler, kondensatorer, objektivkamrar, mål, diffraktionsspeglar, mellanspeglar, projektionsspeglar, skärmar och kameror i vakuum.