Introduktion till scanningelektronmikroskop
Scanningelektronmikroskop (scanningelektronmikroskop, SEM) är ett storskaligt precisionsinstrument som används för högupplöst mikrotopografianalys. Den har egenskaperna hos stort fältdjup, hög upplösning, intuitiv avbildning, stark tredimensionell känsla, brett förstoringsområde, och provet som ska testas kan roteras och lutas i tredimensionellt utrymme.